CDM812D Wheel Loader
CDM812D Wheel Loader

NU-T1810/NU-T1810A Спектрофотометр УФ/видимой области спектра с расщепленным лучом УФ/видимой области спектра

СПЕКТРОФОТОМЕТР с разделенным лучом серии T1810 UV / Vis UV / VIS Характеристики продукта ● Высокая точность: использование прецизионного в

СПЕКТРОФОТОМЕТР с разделенным лучом серии T1810 UV / Vis UV / VIS
Характеристики продукции
● Высокая точность: использование прецизионного винтового привода на уровне решетки микрометра для обеспечения точности длины волны ± 0,3 нм. Пропускная способность достигает ± 0,3%.
● Удобство использования: 5,7-дюймовый графический ЖК-дисплей. Кривая спектра должна быть четкой и простой в эксплуатации. В программе тестирования специального назначения проводится количественный анализ, качественный анализ, кинетический тест, ДНК / РНК, многоволновой анализ.
● Долговечный срок службы: импортная галогенная лампа обеспечивает источник света сроком службы до двух лет, срок службы приемника - 20 лет.
● Широкие области применения: опционально Оснащен блоком Пельтье / sipper, с держателем микроэлемента, с (угол падения 5 °) насадкой для измерения отражательной способности и т. Д. Расширяет области применения еще больше.
 
Функция продуктов
● Фотометрические измерения: удобство для измерения образцов с заданной длиной волны поглощения и пропускания. Многоволновой детектор имеет максимальное одновременное определение 10 длин волн.
● Количественное измерение: автоматически установить стандартную кривую, первый порядок \ первый после заказа аппроксимации кривой третьего порядка. Дополнительный метод: калибровка по одной длине волны, калибровка по двойной длине волны, трехточечный метод,
● Качественные измерения: в том числе масштабирование, сглаживание, фильтрация, обнаружение долины и т. Д.
● Измерение кинетики: Рассчитайте кинетику скорости реакции фермента. Есть


Параметры

Model NU-T1810 NU-T1810A
Optical System Split beam, Littrow,Grating 1200 line/mm
Wavelength Range 190~1100nm
Spectral Bandwidth 1.8nm 1nm
Wavelength Accuracy ±0.3nm
Wavelength Repeatability ±0.1nm
Photometric Accuracy ±0.3%T;±0.002Abs(0~0.5Abs);±0.004(0.5-1.0Abs);
Photometric Repeatability ±0.1%T;±0.001Abs(0~0.5Abs);±0.002(0.5-1.0Abs);
Stray Light ≤0.05%T, @220nm/360nm
Noise Level ±0.0015Abs
Stability ±0.0015A/h@500nm
Baseline Flatness ±0.0015Abs
Baseline Dark Noise 0.1%T
Photometric Range 0~200℅T,-4~4A,0~9999C(0-9999F)
Light Source Tungsten&Deuterium Lamp(Pre-aligned)
Scan Speed Hi,MED.,LOW.,MAX.3600nm/min


Вам также может понравиться

Сумки для покупок